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产品用途:
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)
产品特点:
■ 智能型排气设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性
■ 长时间实验机台运转400小时超长效实验运转时间
■ 内建USB2.0&磁盘驱动器数字记录器储存接口创新USB2.0储存接口
■ 箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg tank耐压设计
■ 二段式压力安全保护装置采两段式结合控制器与机械式压力保护装置
■ 安全保护排压钮紧急安全装置二段式自动排压钮
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怎样找？ 
